LVS(Layout Versus Schematics)是一種驗(yàn)證工具,用于在芯片設(shè)計(jì)的后期階段,檢查芯片的物理版圖(Layout)與原理圖(Schematics)是否一致??梢园阉茸饕环萁ㄖD紙和實(shí)際建造的建筑物之間的對(duì)比檢查,確保設(shè)計(jì)圖紙與實(shí)際構(gòu)建的結(jié)構(gòu)沒有差異。如果兩者不一致,就可能出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤,影響芯片的功能。

1.LVS的目的

LVS 的主要目的是確保芯片版圖的物理實(shí)現(xiàn)與原理圖中的電路邏輯一致,避免因?yàn)榘鎴D設(shè)計(jì)上的錯(cuò)誤導(dǎo)致芯片功能不正常。這個(gè)過程是芯片設(shè)計(jì)的一個(gè)關(guān)鍵驗(yàn)證步驟。

2.LVS的工作原理

LVS 工具會(huì)對(duì)芯片設(shè)計(jì)的兩部分——原理圖版圖進(jìn)行對(duì)比:

  • 原理圖:原理圖是一種電路設(shè)計(jì)圖,展示了各個(gè)電子元器件(如電阻、電容、晶體管等)的連接方式,它描述了電路的邏輯功能。

  • 版圖:版圖是芯片的物理設(shè)計(jì),描述了元器件在硅片上的實(shí)際布局和它們之間的物理連接。

LVS 會(huì)將原理圖中的電路與版圖中的物理設(shè)計(jì)一一對(duì)應(yīng),并檢查以下幾個(gè)方面:

  • 元器件一致性:檢查版圖中的每一個(gè)元器件是否和原理圖中的元器件匹配,是否是同種類型。

  • 連接一致性:檢查電路中的連接是否一致,確保原理圖中兩點(diǎn)之間的連接,在版圖中也有正確的連接。

  • 功能一致性:檢查設(shè)計(jì)的功能是否從邏輯上得到正確的實(shí)現(xiàn),確保沒有錯(cuò)誤的元器件連接或缺失的連接。

3.LVS的驗(yàn)證過程
  • 輸入原理圖和版圖:設(shè)計(jì)師需要將芯片的原理圖和版圖輸入LVS工具,工具將這兩個(gè)設(shè)計(jì)文件進(jìn)行比較。

  • 對(duì)比檢查:LVS工具會(huì)對(duì)比原理圖和版圖,檢查它們的結(jié)構(gòu)是否匹配。比如,檢查元器件是否正確連接,檢查電流路徑是否一致。

  • 輸出報(bào)告:如果原理圖和版圖一致,LVS工具會(huì)輸出一個(gè)通過的報(bào)告。如果存在不一致,工具會(huì)輸出錯(cuò)誤或警告報(bào)告,指出具體的錯(cuò)誤位置。

4.LVS的重要性
  • 確保設(shè)計(jì)正確性:LVS 確保芯片的版圖設(shè)計(jì)與原理圖一致,避免因布局錯(cuò)誤導(dǎo)致的功能失效。就像建筑工程中,建筑物的結(jié)構(gòu)需要與設(shè)計(jì)圖紙一致,才能確保安全和使用。

  • 減少設(shè)計(jì)錯(cuò)誤:通過LVS,設(shè)計(jì)師能夠在物理實(shí)現(xiàn)階段及時(shí)發(fā)現(xiàn)原理圖與版圖之間的差異,避免在制造過程中的錯(cuò)誤,從而減少成本和時(shí)間浪費(fèi)。

  • 提高生產(chǎn)良率:如果設(shè)計(jì)不一致,可能會(huì)導(dǎo)致芯片在生產(chǎn)過程中無法正常工作。LVS 幫助識(shí)別并糾正這些不一致,從而提高生產(chǎn)良率和芯片的可靠性。

5.LVS的應(yīng)用
  • 芯片驗(yàn)證:LVS 是芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證的一部分,特別是在大規(guī)模集成電路(SoC)設(shè)計(jì)中,LVS 確保設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性和一致性。

  • 制造前的最后檢查:LVS 通常是在版圖設(shè)計(jì)完成后進(jìn)行,它是制造之前的最后一步檢查,確保設(shè)計(jì)沒有錯(cuò)誤。

6.LVS與其他驗(yàn)證工具的關(guān)系

LVS 是芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程中的一個(gè)環(huán)節(jié),它與其他工具(如 DRC 和后仿驗(yàn)證)配合使用:

  • DRC(設(shè)計(jì)規(guī)則檢查):檢查版圖設(shè)計(jì)是否符合制造工藝的規(guī)則,確保物理設(shè)計(jì)的可制造性。

  • 后仿驗(yàn)證:驗(yàn)證芯片版圖的時(shí)序和功能是否符合預(yù)期,確保芯片在實(shí)際運(yùn)行中能夠正確工作。

7.總結(jié)

LVS(Layout Versus Schematics)是芯片設(shè)計(jì)中的一個(gè)重要驗(yàn)證步驟,確保芯片的物理版圖與原理圖一致。通過LVS,設(shè)計(jì)師可以確保設(shè)計(jì)的功能和布局在最終的芯片中得以正確實(shí)現(xiàn),避免因設(shè)計(jì)錯(cuò)誤導(dǎo)致芯片在生產(chǎn)過程中的故障。LVS是確保芯片設(shè)計(jì)正確性、可靠性和制造順利進(jìn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

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