有爆料人在周一稱，蘋果公司正在一款采用單挖孔攝像頭的 iPhone 18 Pro 原型機上積極測試屏下面容 ID 系統(tǒng)。

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據(jù)微博賬號“數(shù)碼閑聊站”稱，蘋果公司正在為預(yù)計將于明年發(fā)布的 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max 測試屏下 3D 面部識別技術(shù)。

這位爆料人的最新說法證實了 The Information 周末的一篇報道，該報道稱，蘋果兩款 iPhone 18 Pro 機型可能會采用屏下面容 ID，僅在屏幕左上角開一個小孔以容納前置攝像頭。

屏下面容 ID 是一項重大的工程挑戰(zhàn)，因為它要求蘋果公司在 iPhone 的 OLED 顯示屏下方集成復(fù)雜的紅外面部識別傳感器，并且不能影響其準確性和可靠性。

與簡單的前置攝像頭不同，面容 ID 依靠投射和讀取數(shù)千個紅外點來創(chuàng)建用戶面部的詳細深度圖。OLED 面板會自然阻擋或散射大部分紅外光，導致系統(tǒng)難以在屏幕下方正常工作。

編輯于 2025-05-06 11:58:56